通过对芯片内部电路的提取与分析、整理，实现对芯片技术原理、设计思路、工艺制造、结构机制等方面的深入研究，拥有属于自己独特的芯片方向设计的手法与实战技巧，能够快速准确电路反向提取和高效的电路整理与分析，提供更优质的服务。
     长期致力于IC逆向分析、疑难器件替换、样机制作、功能样机调试等方面研究，有着丰富的经验，逐步形成了集反向研发、正向设计、生产制造以及技术服务方案资询为一体的多元化服务模式。
主要服务有：
用FBI对IC线路进行修改
    用FBI对芯片电路进行物理修改可使芯片设计者对芯片问题处作针对性的测试，以便更快更准确地验证设计方案。若芯片部分区域有问题，可通过FIB对此区域隔离或改正此区域功能，以便找到问题得症结。FBI还能在最终产品量产之前提供部分样片和工程片，利用这些样片能加速终端产品的上市时间。利用FBI修改芯片可以减少不成功的设计方案修改次数，缩短研发时间和周期。
对单片机、CPLD、FPGA等进行逆向和安全分析
    对单片机和CPLD以及FPGA等芯片进行分析和测试，做逆向代码提取以及安全漏洞的测试分析。用FBI在芯片特定位置作截面断层，对材料的截面结构与材质，定点分析芯片结构缺陷。这样可以帮助IC设计人员对IC设计性能分析。
网表/电路图提取与逻辑功能分析
    在芯片反向工程中，网表/电路图提取的质量和速度直接影响后面整理、仿真和LVS等方面的工作。世纪芯在长期技术研究中已经成功总结了一套切实可行的规范和方法，可以提高质量高速度的提取各种类型电路的网表。